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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:日本SANKO山高多電磁模擬薄膜測厚儀

  • 產(chǎn)品型號:SL-200E
  • 產(chǎn)品廠商:SANKO山高
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
高性能小型雙極型:可在內(nèi)部測量小地方(定制生產(chǎn)) 該探頭體積小,適用于測量局部涂層的厚度,例如從平面和曲面到圓鋼、零件、復(fù)雜幾何形狀和內(nèi)部。
詳情介紹:

日本SANKO山高多電磁模擬薄膜測厚儀SL-200E

特征

  • 該探頭體積小,適用于測量局部涂層的厚度,例如從平面和曲面到圓鋼、零件、復(fù)雜幾何形狀和內(nèi)部。

完成

測量范圍
I.:0~50微米 II.:0~500微米
測量精度
在均勻表面上± 1 μm 或指示值的 ±2%
權(quán)力
直流:AA 電池 (1.5V)×8
交流:100V,50/60Hz(帶交流適配器)
工作溫度
0~40°C(無冷凝)
機身尺寸
190(寬)×90(高)×120(深)毫米
重量
1.8公斤
附屬品
標準木板,交流適配器,肩套
探針
2極型,磁極直徑φ2.5,磁極間距5mm 尺寸
:10(寬)×17(高)×21(深)毫米

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