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HORIBA日本堀場(chǎng)碳硫分析儀 EMIA Pro碳/硫分析儀基于HORIBA在非色散紅外（NDIR）技術(shù)方面廣受尊敬的專(zhuān)業(yè)技術(shù)。 它提供了改進(jìn)的清潔效率、增強(qiáng)的用戶友好軟件、耐久性、可操作性和維護(hù)，以確保有效的測(cè)量，其縮短的周期時(shí)間加快了您的開(kāi)發(fā)和制造速度。 查看詳情
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HORIBA日本堀場(chǎng)電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀 HORIBA科學(xué)儀器部擁有超過(guò)35年的高性能ICP-OES開(kāi)發(fā)及生產(chǎn)歷史。新款Ultima Expert擁有**的性能，結(jié)合各種輔助工具，可以簡(jiǎn)化及優(yōu)化分析方法。 Ultima Expert整合了Jobin Yvon高性能光學(xué)系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)，在分析各類(lèi)樣品和基體時(shí)均具有不凡的表現(xiàn)。 Ultima Expert由強(qiáng)大的分析軟件驅(qū)動(dòng)，具有大量的分析功能，可以進(jìn)行一些定制化的控制和分析。 高穩(wěn)健性使Ultima Expert可以輕松地應(yīng)用于：礦物、化學(xué)制造、高鹽、潤(rùn)滑油（磨損金屬）、石化、冶金制造及貴金屬提煉等分析。 Ultima Expert能夠滿足您的所有應(yīng)用需求！ 查看詳情
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HORIBA日本堀場(chǎng)電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀 HORIBA科學(xué)儀器部擁有超過(guò)35年的高性能ICP-OES開(kāi)發(fā)及生產(chǎn)歷史 Ultima Expert LT性能優(yōu)良且價(jià)格適中，能夠處理各種復(fù)雜樣品。 Ultima Expert LT整合了Jobin Yvon高性能光學(xué)系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)，在分析各類(lèi)樣品和基體時(shí)均具有非常突出的表現(xiàn)。 Ultima Expert LT由強(qiáng)大的分析軟件驅(qū)動(dòng)，具有大量的分析功能，可以進(jìn)行一些定制化的控制和分析。 高穩(wěn)健性使Ultima Expert LT可以輕松地應(yīng)用于：礦物、化學(xué)制造、高鹽、潤(rùn)滑油（磨損金屬）、石化、冶金制造及貴金屬提煉等分析。 Ultima Expert LT能夠滿足您的各種應(yīng)用需求！ 查看詳情
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HORIBA日本堀場(chǎng)輝光放電光譜儀 GD-Profiler 2? 可以快速、同時(shí)分析所有感興趣的元素，包括氣體元素N、O、H和Cl，是薄膜和厚膜表征和工藝研究的理想工具。 GD-Profiler 2? 配備的射頻源可在脈沖模式下對(duì)易碎樣品進(jìn)行測(cè)試，廣泛應(yīng)用于高校以及工業(yè)研究實(shí)驗(yàn)室，其應(yīng)用范圍有腐蝕研究、PVD 涂層工藝控制、PV 薄膜開(kāi)發(fā)以及LED 質(zhì)量控制等。 查看詳情
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HORIBA日本堀場(chǎng)X 射線熒光分析儀 為了滿足 RoHS/ELV 測(cè)試和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射線熒光分析儀 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以來(lái)，全球已有 1000 臺(tái)儀器用于這些應(yīng)用，以滿足客戶在不切割樣品的情況下分析樣品的關(guān)鍵需求。 2012 年，HORIBA發(fā)布了直觀便捷的 MESA-50 X射線熒光分析儀，在很短的時(shí)間內(nèi)變得非常流行，2013 年，MESA-50 系列增加了一種帶有大樣品室的新型 MESA-50K, 它配備了無(wú)需液氮的精密檢測(cè)器，As/Sb 分析功能和多層膜FPM 可作為可選功能。 查看詳情
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HORIBA日本堀場(chǎng)X 射線熒光分析儀 速度和靈活性兼?zhèn)涫俏^(qū) X 射線熒光光譜的發(fā)展方向 <15μm 超高強(qiáng)度X射線頭，兼具高靈敏度和高空間分辨率 高分辨相機(jī)和多種照明模式成像 雙檢測(cè)器！熒光X射線檢測(cè)器和透射X射線檢測(cè)器 輕元素檢測(cè)器使元素檢測(cè)范圍下延到C元素 查看詳情
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HORIBA日本堀場(chǎng)微區(qū)X射線熒光分析儀 速度和靈活性兼?zhèn)涫俏^(qū) X 射線熒光光譜的發(fā)展方向 <15μm 超高強(qiáng)度X射線頭，兼具高靈敏度和高空間分辨率 高分辨相機(jī)和多種照明模式成像 雙檢測(cè)器！熒光X射線檢測(cè)器和透射X射線檢測(cè)器 輕元素檢測(cè)器使元素檢測(cè)范圍下延到C元素 查看詳情
