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簡單介紹：

日本OTSUKA大塚相位差測量裝置

詳情介紹：

產品信息

特點

采用大塚電子自社的多通道瞬間光譜儀實現高精度測量

■ 高精度

測量多波長實現高精度

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＜高精度的原因＞

■使用大塚電子自社的高性能瞬間多通道光譜儀。

■獲得數據量很多的透過率信息，實現高精度測量。

■獲得約個500波長的透過率信息、是其他公司同類產品的約50倍

■ 寬測量范圍（保留范圍：0 至 60000 nm）

■ 可測量相位差的波長分散形狀

超高相位差測量　-可高速·高精度測量超雙折射薄膜-

■ 相位差

測量測量　-不剝離、非破壞測量多層薄膜的每層相位差及軸角-

軸角度補正功能　-可補正樣品設置的偏移，輕松實現軸角測量的高再現性-

■ 樣品重復取放10次，對比有·無角度補正的數據

【樣品：相位差膜R85 】

簡單的軟件——測量時間和處理時間大大減少。大大提高了可操作性-

規(guī) 格

規(guī)格

* 1 需要自動傾斜旋轉平臺（可選）

項目	相位差測量裝置RETS-100nx
測量項目（薄膜、光學材料）	相位差（波長分散）、慢軸、Rth1、3次元折射率1等
測量項目（偏光片）	吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率等
測量項目（液晶Cell）	Cell Gap、預傾角*1、扭曲角、配向角等
相位差測量范圍	0 ～ 60,000nm
相位差重復性	3σ≦0.08nm （水晶波長板約600nm）
Cell Gap測量范圍	0 ～ 600μm （Δn=0.1的情況）
Cell Gap重復性	3σ≦0.005μm （Cell Gap約3μm、Δn=0.1的情況）
軸檢出重復性	3σ≦0.08° （水晶波長板約600nm）
測量波長范圍	400 ～ 800nm （可選擇其他波長）
檢出器	瞬間多通道光譜儀
測量光斑	φ2mm （標準式樣）
光源	100W 鹵素燈
數據處理部	PC、顯示器
平臺尺寸：標準	100mm × 100mm （固定平臺）
選配	· 超高相位差測量 · 多層測量 · 軸角度補正功能 · 自動XY平臺 · 自動傾斜旋轉平臺