產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
帶有自動(dòng)采樣功能的連續(xù)元素和顆粒物質(zhì)量分析儀
人們?cè)絹碓疥P(guān)注顆粒物對(duì)人體健康的影響，為制定有效的防護(hù)措施，顆粒物（PM）溯源尤為重要。因此，除了需要確定PM的質(zhì)量濃度，還需要確定元素濃度。PX-375帶有自動(dòng)進(jìn)樣功能，可連續(xù)對(duì)顆粒物進(jìn)行在線的定性定量分析，對(duì)空氣污染進(jìn)行快速溯源。
詳情介紹：
- 一定區(qū)域內(nèi)，僅使用1臺(tái)機(jī)器即可實(shí)現(xiàn)顆粒物質(zhì)量濃度和元素濃度連續(xù)監(jiān)測(cè)。
- 采用世界通用的分析技術(shù)：X射線熒光和β射線吸收法。
- HORIBA的濾紙帶，實(shí)現(xiàn)了低濃度的高精度測(cè)量。
- 搭載 CMOS 攝像頭，可觀察到濾紙所捕集粒子的捕集狀態(tài)。
- 操作簡(jiǎn)單，良好的用戶體驗(yàn)。
<表 1> 檢測(cè)下限（示例） (2σ) (ng/m3)
* LDL (σ) 是 LDL (2σ)的二分之一。
<表 2> 可檢出元素
* O - 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，需由標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)材料進(jìn)行校準(zhǔn)。
* 對(duì)于元素濃度的測(cè)量，需要用標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)材料進(jìn)行校準(zhǔn)。
* 關(guān)于標(biāo)記為不可檢測(cè)的元素，請(qǐng)另行聯(lián)系HORIBA咨詢。
產(chǎn)品的規(guī)格、外觀或其他方面如有變化，恕不另行通知。
| 產(chǎn)品名稱 | 帶 X 射線熒光的連續(xù)顆粒物監(jiān)測(cè)儀 |
|---|---|
| 型號(hào) | PX-375 |
| 測(cè)量對(duì)象 | 顆粒物 (PM10, PM2.5, TSP) |
| 測(cè)量?jī)?nèi)容 | 顆粒物的質(zhì)量濃度和元素濃度 |
通用
| 流速 | 16.7L/分鐘 |
|---|---|
| 采樣泵 | 線性驅(qū)動(dòng)自由活塞系統(tǒng)、單獨(dú)安裝 |
| 濾紙帶 | PTFE+無紡布 |
| 點(diǎn)帶間隔 | 20/25/50/100mm 可選 |
| 濾紙帶更換周期 | 約1個(gè)月(點(diǎn)帶間隔為100mm) |
| 環(huán)境操作溫度 | 10?C~30?C |
| 相對(duì)濕度 | 0~80% RH 無冷凝 |
| 海拔 | 1000米以下 |
| 電源 | AC100V~240V ±10%, 50/60Hz±1% |
| 功率 | 約 400VA |
| 外形尺寸 | 430mm(W)×550mm(D)×285mm(H) (凸起物除外) |
| 重量 | 約40kg (采樣管和采樣頭除外) |
| 數(shù)據(jù)輸出 | CSV 格式文件 (PM2.5質(zhì)量濃度和元素濃度的小時(shí)平均值) |
| 外部鏈接 | EthernetTM, USB, RS-232C* (可選) |
*通訊及儀器組成請(qǐng)另行咨詢。
質(zhì)量濃度分析部分
| 測(cè)量方法 | β 射線吸收法 |
|---|---|
| PM10 | PM10 采樣探頭 |
| PM2.5 | VSCCTM （旋風(fēng)分立方式） |
| TSP | TSP 采樣探頭 |
| 量程 | 0~200/500/1000μg/m3 |
| 重復(fù)性 | ±2% (相對(duì)于用于確認(rèn)靈敏度的箔片值) |
| 量程漂移 | ±3% (24小時(shí)) |
| 檢測(cè)下限 (2σ) | ±4μg/m3 (24小時(shí)) |
| 采樣測(cè)量時(shí)間 | 0.5/1/2/3/4/6/8/12/24 小時(shí) |
元素濃度分析部分
| 測(cè)量方法 | 能量分散型X射線熒光分析法 |
|---|---|
| 可檢出元素 |
參照可檢出元素（表2） 標(biāo)準(zhǔn)可測(cè)量元素： S, Ti, Cr, Mn, Ni, Cu, Zn, Pb, Al, Si, K, Ca, V, Fe, As. |
| 1次性X射線濾紙 | 輕元素、重元素兩種類型自動(dòng)切換 |
| 管電壓 | 15kV, 50kV 自動(dòng)切換 |
| 檢測(cè)器 | SDD (硅漂移檢測(cè)器) |
| 觀測(cè) | CMOS 攝像頭 |
| 檢測(cè)下限 (2σ) |
EPA推薦方法 IO 3.3 參照檢測(cè)下限 (示例)（表1） |
| 測(cè)量范圍 | 高至測(cè)量時(shí)間 |
| 分析時(shí)間 |
標(biāo)準(zhǔn) 1000s (16.6 min) 可選 100 / 200 / 500 / 1000 / 2000 / 5000 / 10000s |
| X 射線強(qiáng)度校準(zhǔn)材料 | NIST SRM 2783, 其它材料(可選) |
| X 射線**功能 |
X 射線連鎖功能 鍵控開關(guān) X 射線輸出指示燈 |
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