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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:HORIBA日本堀場(chǎng)生物型納米拉曼光譜儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):CombiScope
  • 產(chǎn)品廠商:HORIBA日本堀場(chǎng)
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簡(jiǎn)單介紹:
CombiScope原子力顯微鏡(AFM)是一種先進(jìn)的研究平臺(tái),為生物學(xué)、光譜學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域的研究人員提供了進(jìn)入通道。如果您在空氣或液體中研究透明樣品納米級(jí)結(jié)構(gòu)和(近場(chǎng))納米光學(xué)特性研究,CombiScope是您的*佳解決方案。它**地耦合了倒置光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡,釋放了這兩種技術(shù)的所有潛能,提供了儀器調(diào)節(jié)和測(cè)量、高分辨和高速成像。此外,它可以很容易地耦合我們的拉曼光譜儀。
詳情介紹:

高效、易操作

CombiScope配備了全電動(dòng)懸臂架和光電二極管定位,具有自動(dòng)一鍵點(diǎn)式激光-針尖準(zhǔn)直功能。這大大簡(jiǎn)化了整個(gè)系統(tǒng)調(diào)整過(guò)程,并提供了*高水平的系統(tǒng)再現(xiàn)性。此外,在安裝相同或甚至不同類型的新懸臂梁后,樣品表面上的相同感興趣區(qū)域(在幾微米的重復(fù)性范圍內(nèi))可以很容易地找回并掃描,而無(wú)需任何額外的操作。

**掃描器

CombiScope配備精密運(yùn)動(dòng)控制***PI公司提供的閉環(huán)、高動(dòng)態(tài)、3軸壓電納米定位掃描器。**掃描器是該系統(tǒng)的核心,使其能夠?qū)崿F(xiàn)高線性、高穩(wěn)固性和高精準(zhǔn)性運(yùn)動(dòng)。

1300 nm AFM激光器

1300nm原子力顯微鏡反饋激光和常用的紫外、可見光和近紅外拉曼激光(364-830 nm)毫無(wú)相互干擾,并且消除了對(duì)可見光敏感生物和半導(dǎo)體樣品的任何干擾。

耦合光學(xué)顯微鏡

倒置光學(xué)顯微鏡:尼康Eclipse Ti-U、Olympus IX-71等(具有相位反差和DIC)

平場(chǎng)消色差物鏡:頂部100x,NA=0.7;側(cè)向10x,NA0.28

耦合透射和反射(頂部)光路配置,利用光學(xué)、拉曼和掃描探針顯微鏡技術(shù)研究透明和非透明樣品

在液體中工作的解決方案

標(biāo)準(zhǔn)的CombiScope樣品架可容納所有常見的樣品襯底,包括載玻片、蓋玻片和35 mm培養(yǎng)皿。特殊設(shè)計(jì)的液體池具有加熱和液體灌注功能,可在生理環(huán)境和高達(dá)60°C的溫度維系下生物樣品。

一臺(tái)儀器即可實(shí)現(xiàn)所有操作模式

CombiScope平臺(tái)在一臺(tái)儀器中配備了所有現(xiàn)代AFM操作模式,無(wú)需任何額外硬件和成本。它包括諸如力模式、納米蝕刻、壓電力顯微鏡(PFM)、開爾文探針顯微鏡和調(diào)頻AFM(內(nèi)置PLL的動(dòng)態(tài)力顯微鏡)等特殊應(yīng)用模式。此外,也可以選配掃描隧道顯微鏡(STM)頭和導(dǎo)電AFM在100 fA–10μA范圍內(nèi)工作(1 nA、100 nA和10μA三檔量程自由切換,1nA量程的電流噪聲為60 fA)和近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(SNOM)。CombiScope特殊多功能性平臺(tái)已經(jīng)成為納米科學(xué)的**解決方案。


測(cè)量模式

空氣中接觸AFM;

液體接觸AFM(可選);

空氣中的半接觸原子力顯微鏡;

液體半接觸原子力顯微鏡(可選);

真正的非接觸式原子力顯微鏡;

動(dòng)態(tài)力顯微鏡(DFM、FM-AFM);

耗散力顯微鏡;

Top模式;

相位成像;

側(cè)向力顯微鏡(LFM);

力調(diào)制;

導(dǎo)電原子力顯微鏡(可選);

I-Top模式(可選);

磁力顯微鏡(MFM);

開爾文探針(表面電位顯微鏡);

單通開爾文探頭;

電容顯微鏡(SCM)

電力顯微鏡(EFM);

單通道MFM/EFM(“平面掃描”);

力曲線測(cè)量;

壓電響應(yīng)力顯微鏡(PFM);

PFM Top模式;

納米光刻技術(shù);

納米操縱;

STM(可選);

光電流成像模式(可選);

伏安特性測(cè)量(可選);

帶音叉的剪切力顯微鏡(ShFM);

音叉法向力顯微鏡。

 

液體測(cè)量模式(測(cè)試頭HE001)

接觸模式AFM;

半接觸原子力顯微鏡;

Top Mode;

相位成像;

側(cè)向力顯微鏡;

力調(diào)制;

力曲線測(cè)量;

納米蝕刻;

納米操縱。

 

SmartSPM掃描器和基座

閉環(huán)平板掃描器: 100 μm x 100 μm x 20 μm (±10 %)

掃描器非線性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪聲水平XY≤0.1 nm RMS(200 Hz帶寬,電容傳感器打開);XY≤0.02 nm RMS(100 Hz帶寬,電容傳感器關(guān)閉);Z<0.1 nm RMS (1000 Hz帶寬,電容傳感器開)

高頻掃描器XY≥7 kHz; Z≥15 kHz

 

基座

  • 手動(dòng)樣品定位范圍:25 mm×25 mm
  • 電動(dòng)SPM測(cè)量頭定位范圍:1.6 mm×1.6 mm
  • 電動(dòng)趨近量程:1.3 mm
  • 標(biāo)準(zhǔn)載玻片和蓋玻片樣品架
  • 樣品尺寸(可選):≥50.8 mm×50.8 mm×5 mm(中心25 mm×25 mm范圍內(nèi)可以任意區(qū)域成像)

 

AFM測(cè)試頭HE001

激光波長(zhǎng):1300nm

激光對(duì)生物樣品無(wú)影響;

激光對(duì)光電測(cè)量無(wú)影響

系統(tǒng)噪聲:< 0.03 nm

全電動(dòng):4步進(jìn)電機(jī)用于懸臂和光電二極管自動(dòng)對(duì)準(zhǔn);

探針通道:為外部操作和探針提供自由通道

頂部和側(cè)向同時(shí)光路通道:帶平消色差物鏡,可同時(shí)10x,NA0.28頂部物鏡和20x,NA0.42側(cè)向物鏡

 

液體電池(可選)

手動(dòng)樣品定位:15x15mm,定位分辨率1um;

培養(yǎng)皿支架:直徑35mm

液體體積1.5-2.5ml;

液體交換:雙管道

 

導(dǎo)電力AFM(選購(gòu))

電流范圍:100fA~10μA;

三檔量程自動(dòng)切換(1nA, 100nA和10μA)

電壓范圍:-10~ +7V

電流噪聲:≤60fA(1nA量程)

 

兼容倒置光學(xué)顯微鏡:

紅外激光對(duì)光學(xué)成像無(wú)干擾;

可兼容以下顯微鏡:

尼康Ti-E、Ti-U、Ti-S、TE2000;奧林巴斯IX-71,IX-81;

相位反差、DIC和熒光技術(shù)(需本征光學(xué)聚光器);

可升級(jí)到TRIOS平臺(tái),用于光譜和TERS操作。

 

光學(xué)顯微鏡

數(shù)值孔徑NA 0.1;

放大倍率從85x到1050x(19英寸監(jiān)視器,1/3英寸CCD);

水平視野4.5~0.37mm;

手動(dòng)變焦:12.5倍;

/精對(duì)焦單元

兼容平顯色差物鏡:10x,NA 0.28和20x,NA 0.42和100x,NA0.7(取決于AFM測(cè)試頭)

軟件系統(tǒng)

自動(dòng)準(zhǔn)直系統(tǒng);

自動(dòng)配置標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量技術(shù);

自動(dòng)調(diào)節(jié)懸臂梁共振頻率;

能夠處理力曲線;

宏語(yǔ)言Lua,用于編程用戶函數(shù)、腳本和小構(gòu)件;

能用DSP宏語(yǔ)言對(duì)控制器進(jìn)行實(shí)時(shí)編程,無(wú)需重新加載控制軟件;

在坐標(biāo)空間處理圖像的能力,包括制作橫截面、擬合和高達(dá)8級(jí)的多項(xiàng)式曲面減法;

FFT處理,具有在頻率空間處理圖像的能力,包括濾波和分析;

納米蝕刻和納米操縱;

高達(dá)5000x5000像素圖像的處理能力


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