產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
我們的模塊化科研級Nanolog穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀是專門為納米技術(shù)和納米材料的研究而設計的。
Nanolog?系列熒光光譜儀是專門為納米技術(shù)和納米材料等前沿研究而設計的。可實現(xiàn)幾毫秒內(nèi)獲得完整光譜，幾秒內(nèi)獲得而完整的激發(fā)發(fā)射三維矩陣。
詳情介紹：
技術(shù)特點
- 超快三維光譜采集速度（在幾秒鐘內(nèi)即可快速完成激發(fā)-發(fā)射矩陣掃描）
- 陣列InGaAs檢測器具有近紅外高靈敏度
- 高分辨率
- 實現(xiàn)SWNTs種類和系列的鑒定和量化分析
- 兼容從紫外到近紅外等各種檢測器
- 光電倍增管可現(xiàn)在*高靈敏度和時間分辨分析
- CCD和陣列InGaAs檢測器可實現(xiàn)數(shù)據(jù)快速采集
- 量子點混合物能量傳遞實驗研究
- 模塊化設計
- 450 W 連續(xù)氙燈，用于從紫外到近紅外區(qū)域激發(fā)
- 幾秒鐘完成激發(fā)-發(fā)射三維矩陣掃描
- InGaAs陣列檢測器。800-1700nm；256 x 1,512 x 1和1024 x 1三種像素格式，間距小至25 μm；噪聲低至650 erms，液氮制冷以獲得*佳信噪比；可選擇電制冷；擴展檢測范圍選項（1.1 - 2.2 μm）。
- iHR320成像光譜儀：焦距=320mm；f/4.1；色散=2.31nm/mm；分辨率=0.06nm（帶狹縫）；軟件控制的三層光柵塔輪（所有測量均采用1200 grove/mm的光柵
- 可提供固態(tài)近紅外檢測器，紫外到近紅外的光電倍增管，時間相關(guān)單光子計數(shù)的壽命測試（100ps到1ms，紫外到近紅外），門控技術(shù)的壽命測試（1μs到>10s，紫外到近紅外），以及頻域壽命測量（10ps到10μs，紫外到近紅外）。
光路圖
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