粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 μm
SZ-100V2 系列采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池，也可實現(xiàn)對小體積樣品的測量。
Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV
使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產品配方的研究工作具有重大的意義。
分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da
通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數(shù) (A2 )。
SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！
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SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質、聚合物等。
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使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量
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HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（*低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。
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HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。
SZ-100-S2 測量規(guī)格
| 型號 | SZ-100-S2（**粒徑和分子量測量） |
|---|---|
| 測量原理 |
粒度測量：動態(tài)光散射 分子量測量：德拜記點法（靜態(tài)散射光強度） |
| 測量范圍 |
粒徑：0.3 nm 至 10 μm 分子量：1000 至 2 × 10 7 Da（德拜記點） 540 至 2× 10 7 Da（MHS 方程）*1 |
| *大樣品濃度 |
40%*2 |
| 粒度測量精度 |
以100 nm的聚苯乙烯乳膠球體為例，其測量精度為 ±2% （不包括標準顆粒本身的變化） |
| 測量角度 |
90°和173°（自動或手動選擇） |
| 樣品池 | 比色皿 |
| 測量時間 | 常規(guī)條件下約 2分鐘（從測量開始到顯示粒度測量結果） |
| 所需樣品量 | 12 μL *3至 1000 μL（因比色皿材料而異） |
| 分散劑 | 水、乙醇、有機溶劑 |
*1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取決于樣本。
*2：取決于樣品。
*3：F 微型電池。
SZ-100-Z2 測量規(guī)格（粒度和分子量測量規(guī)格與 SZ-100-S2 相同。）
| 型號 | SZ-100-Z2（帶Zeta電位測量單元） |
|---|---|
| 測量原理 | Zeta 電位測量：激光多普勒電泳 |
| 測量范圍 | -500 至 +500 mV |
| 適合測量的尺寸范圍 | *小 2.0 nm，*大 100 μm *4 |
| 測量電導率范圍 | 0 至 20 S/m*5 |
| *大樣品濃度 | 40% *6 |
| 樣品池 | 石墨電極電位樣品池 |
| 測量時間 | 常規(guī)條件下約 2分鐘 |
| 所需樣品量 | 100 μL |
| 分散劑 | 水 |
*4：取決于樣品。
*5：推薦的樣品電導率范圍：0 到 2 S/m。
*6：取決于樣品。
儀器規(guī)格（SZ-100-S2 和 SZ-100-Z2）
| 測量單元光學系統(tǒng) |
光源：二極管泵浦倍頻激光器（532 nm，S2 / Z2 10 mW，HS2 / HZ2 100 mW） 檢測器：光電倍增管（PMT） |
|---|---|
| 激光分類 | ** |
| 工作溫度和濕度 | 15 - 35 °C，RH 85% 或更低（無冷凝） |
| 支架溫度控制溫度設置 | 0 - 90 °C（石墨電極電位樣品池控溫*高可達 70 °C） |
| 吹掃 | 可以連接干燥氣體吹掃端口管。 |
| 電源供應 | 交流 100 - 240 V，50/60 Hz，150 VA |
| 外觀尺寸 | 528 (W) x 385 (D) x 273 (H) mm（不包括突出部分） |
| 重量 | 25 kg |
| 電腦 | 帶有一個可用 USB 端口的 Windows 計算機 |
| 界面 | USB 2.0（測量單元和 PC 之間） |
| 操作系統(tǒng) |
Windows® 10 32/64 位 |
尺寸（毫米）
附件
粒徑測量樣品池
