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簡單介紹：

日本OTSUKA大塚相位差測量裝置

詳情介紹：

產(chǎn)品信息

特點(diǎn)

采用大塚電子自社的多通道瞬間光譜儀實(shí)現(xiàn)高精度測量

■ 高精度

測量多波長實(shí)現(xiàn)高精度

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＜高精度的原因＞

■使用大塚電子自社的高性能瞬間多通道光譜儀。

■獲得數(shù)據(jù)量很多的透過率信息，實(shí)現(xiàn)高精度測量。

■獲得約個(gè)500波長的透過率信息、是其他公司同類產(chǎn)品的約50倍

■ 寬測量范圍（保留范圍：0 至 60000 nm）

■ 可測量相位差的波長分散形狀

超高相位差測量　-可高速·高精度測量超雙折射薄膜-

■ 相位差

測量測量　-不剝離、非破壞測量多層薄膜的每層相位差及軸角-

軸角度補(bǔ)正功能　-可補(bǔ)正樣品設(shè)置的偏移，輕松實(shí)現(xiàn)軸角測量的高再現(xiàn)性-

■ 樣品重復(fù)取放10次，對(duì)比有·無角度補(bǔ)正的數(shù)據(jù)

【樣品：相位差膜R85 】

簡單的軟件——測量時(shí)間和處理時(shí)間大大減少。大大提高了可操作性-

規(guī) 格

規(guī)格

* 1 需要自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)平臺(tái)（可選）

項(xiàng)目	相位差測量裝置RETS-100nx
測量項(xiàng)目（薄膜、光學(xué)材料）	相位差（波長分散）、慢軸、Rth1、3次元折射率1等
測量項(xiàng)目（偏光片）	吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率等
測量項(xiàng)目（液晶Cell）	Cell Gap、預(yù)傾角*1、扭曲角、配向角等
相位差測量范圍	0 ～ 60,000nm
相位差重復(fù)性	3σ≦0.08nm （水晶波長板約600nm）
Cell Gap測量范圍	0 ～ 600μm （Δn=0.1的情況）
Cell Gap重復(fù)性	3σ≦0.005μm （Cell Gap約3μm、Δn=0.1的情況）
軸檢出重復(fù)性	3σ≦0.08° （水晶波長板約600nm）
測量波長范圍	400 ～ 800nm （可選擇其他波長）
檢出器	瞬間多通道光譜儀
測量光斑	φ2mm （標(biāo)準(zhǔn)式樣）
光源	100W 鹵素?zé)?/span>
數(shù)據(jù)處理部	PC、顯示器
平臺(tái)尺寸：標(biāo)準(zhǔn)	100mm × 100mm （固定平臺(tái)）
選配	· 超高相位差測量 · 多層測量 · 軸角度補(bǔ)正功能 · 自動(dòng)XY平臺(tái) · 自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)平臺(tái)