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產(chǎn)品目錄
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：日本OTSUKA大塚高速延遲測量裝置

  • 產(chǎn)品型號：RE-200
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
日本OTSUKA大塚高速延遲測量裝置
詳情介紹：

   產(chǎn)品信息

    特 點

●可測從0nm開始的低（殘留）相位差
●光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當于世界*快速的0.1秒以下來處理）
●無驅(qū)動部，重復再現(xiàn)性高
●設置的測量項目少，測量簡單
●測量波長除了550nm以外，還有各種波長
●Rth測量、全方位角測量
（需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
●通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
 (本系統(tǒng)屬特注。）

    測量項目

●相位差
●主軸方位角
●橢圓率&方位角
●三次元折射率（NxNyNz）

    用　途

●位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
●樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）

    原　理

●什么是RE-200
●RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機構，系統(tǒng)整體上是屬于小型構造，長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

   仕　樣

                    型號

                    RE series

                    樣品尺寸

                    *小10×10mm ～*大100×100mm

                    測量波長

                    550nm （標準仕樣）※1

                    相位差測量范圍

                    約0nm ～約1μm

                    軸檢出重復精度

                    0.05°（at 3σ） ※2

                    檢出器

                    偏光計測模塊

                    測量光斑直徑

                    2.2mm×2.2mm

                    光源

                    100W 鹵素燈或 LED光源

                    本體?重量

                    300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg

 Option
●Rth測量、全方位角測量※治具本體（旋轉(zhuǎn)：180°, 傾斜：±50°）
●動旋轉(zhuǎn)傾斜治具



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