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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):HORIBA日本堀場(chǎng)納米粒度及Zeta電位分析儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):SZ-100-Z2
  • 產(chǎn)品廠商:HORIBA日本堀場(chǎng)
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
先進(jìn)的分析儀器助您解開(kāi)納米世界的奧秘。只需單臺(tái)設(shè)備就能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù):粒徑、Zeta 電位和分子量。 納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過(guò)程,這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸,從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級(jí)控制可以有效實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運(yùn)行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
詳情介紹:


粒徑測(cè)量范圍0.3 nm ~ 10 μm

SZ-100V2 系列采用動(dòng)態(tài)光散射 (DLS) 原理測(cè)量顆粒粒徑大小及分布,實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測(cè)量,該系列可準(zhǔn)確測(cè)量低至ppm 級(jí)低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品??墒褂檬惺鄣臉悠烦?,也可實(shí)現(xiàn)對(duì)小體積樣品的測(cè)量。

Zeta 電位測(cè)量范圍– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測(cè)量Zeta 電位值只需樣品100 μL,通過(guò)Zeta電位可預(yù)測(cè)和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高,則意味著分散體系越穩(wěn)定,這對(duì)于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測(cè)量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通過(guò)測(cè)量不同濃度下的靜態(tài)光散射強(qiáng)度并通過(guò)德拜記點(diǎn)法計(jì)算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數(shù) (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力,可快速確定納米顆粒的特性!

  • SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計(jì),既可以測(cè)量高濃度的樣品,如漿體和染料;同時(shí)也可以用于測(cè)量低濃度樣品,如蛋白質(zhì)、聚合物等。

  • 使用單臺(tái)設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量

  • HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對(duì)其造成污染。樣品池容量(*低容量100 μL)小適用于稀釋樣品的分析。

  • HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成,該材料不會(huì)受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。

SZ-100-S2 測(cè)量規(guī)格

型號(hào) SZ-100-S2(**粒徑和分子量測(cè)量)
測(cè)量原理 粒度測(cè)量:動(dòng)態(tài)光散射
分子量測(cè)量:德拜記點(diǎn)法(靜態(tài)散射光強(qiáng)度)
測(cè)量范圍 粒徑:0.3 nm 至 10 μm
分子量:1000 至 2 × 10 7 Da(德拜記點(diǎn))
                             540 至 2× 10 7 Da(MHS 方程)*1
*大樣品濃度

40%*2

粒度測(cè)量精度

以100 nm的聚苯乙烯乳膠球體為例,其測(cè)量精度為 ±2% (不包括標(biāo)準(zhǔn)顆粒本身的變化)

測(cè)量角度

90°和173°(自動(dòng)或手動(dòng)選擇)

樣品池 比色皿
測(cè)量時(shí)間 常規(guī)條件下約 2分鐘(從測(cè)量開(kāi)始到顯示粒度測(cè)量結(jié)果)
所需樣品量 12 μL *3至 1000 μL(因比色皿材料而異)
分散劑 水、乙醇、有機(jī)溶劑
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*1:Mark-Howink-Sakurada 方程,取決于樣本。
*2:取決于樣品。
*3:F 微型電池。

 

SZ-100-Z2 測(cè)量規(guī)格(粒度和分子量測(cè)量規(guī)格與 SZ-100-S2 相同。)

型號(hào) SZ-100-Z2(帶Zeta電位測(cè)量單元)
測(cè)量原理 Zeta 電位測(cè)量:激光多普勒電泳
測(cè)量范圍 -500 至 +500 mV
適合測(cè)量的尺寸范圍 *小 2.0 nm,*大 100 μm *4
測(cè)量電導(dǎo)率范圍 0 至 20 S/m*5
*大樣品濃度 40% *6
樣品池 石墨電極電位樣品池
測(cè)量時(shí)間 常規(guī)條件下約 2分鐘
所需樣品量 100 μL
分散劑
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*4:取決于樣品。
*5:推薦的樣品電導(dǎo)率范圍:0 到 2 S/m。
*6:取決于樣品。

 

儀器規(guī)格(SZ-100-S2  SZ-100-Z2

測(cè)量單元光學(xué)系統(tǒng) 光源:二極管泵浦倍頻激光器(532 nm,S2 / Z2 10 mW,HS2 / HZ2 100 mW)
檢測(cè)器:光電倍增管(PMT)
激光分類(lèi) **
工作溫度和濕度 15 - 35 °C,RH 85% 或更低(無(wú)冷凝)
支架溫度控制溫度設(shè)置 0 - 90 °C(石墨電極電位樣品池控溫*高可達(dá) 70 °C)
吹掃 可以連接干燥氣體吹掃端口管。
電源供應(yīng) 交流 100 - 240 V,50/60 Hz,150 VA
外觀尺寸 528 (W) x 385 (D) x 273 (H) mm(不包括突出部分)
重量 25 kg
電腦 帶有一個(gè)可用 USB 端口的 Windows 計(jì)算機(jī)
界面 USB 2.0(測(cè)量單元和 PC 之間)
操作系統(tǒng)

Windows® 10 32/64 位

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尺寸(毫米)

 


附件

粒徑測(cè)量樣品池


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