元素技術(shù)晶體/高靈敏度、高精度

能量色散X射線熒光光譜儀用來自X射線管的初級(jí)X射線照射樣品，并用半導(dǎo)體檢測器測量產(chǎn)生的X射線熒光，無論樣品的形狀如何，都可以無損地對元素進(jìn)行定性和定量分析。
半導(dǎo)體探測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻硅漂移探測器（SDD），并且可以與數(shù)字計(jì)數(shù)電路（DSP）結(jié)合使用，以提供高分辨率和高計(jì)數(shù)率的測量。
為了提高分析性能，我們準(zhǔn)備了激發(fā)光學(xué)系統(tǒng)的條件，可以*大限度地提高半導(dǎo)體探測器的能量分辨率和計(jì)數(shù)靈敏度。

尺寸圖

應(yīng)用實(shí)例

• 同時(shí)分析碘化銫 （CsI） 化合物中的碘 （I） 和銫 （Cs）
• 焚燒灰燼分析實(shí)例
• 水泥分析示例
• 采石場沉積物、礫石和碎石的現(xiàn)場分析示例
• 鋁合金鎂測量示例（各種類型）
• 農(nóng)藥污染土壤分析
• 工業(yè)廢棄物分析
• 土壤中有害重金屬元素的分析
• 油中的硫分析
• 新型固體燃料RPF分析

OURSTEX160規(guī)格