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產(chǎn)品目錄

產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：RIGAKU日本理學(xué) 熒光光譜儀
產(chǎn)品型號：NEX DE
產(chǎn)品廠商：RIGAKU日本理學(xué)
產(chǎn)品文檔：

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簡單介紹：

這種能量色散X射線熒光光譜儀不僅適用于制造現(xiàn)場的過程控制分析，也適用于研究和開發(fā)?？蓽y定的元素范圍為Na～U，主要成分的元素分析可從ppm量級進(jìn)行。您可以選擇包含用于微量粉末、異物和 RoHS 分析的樣品觀察的小直徑準(zhǔn)直器和相機(jī)的規(guī)格，以及不包含小直徑準(zhǔn)直器和相機(jī)的通用規(guī)格

詳情介紹：

用于分析少量粉末樣品

如果樣品是粉末，則裝滿微抹刀就足夠了。直接激發(fā)光學(xué)系統(tǒng)甚至可以對*小直徑為 1 mm 的小樣品進(jìn)行高靈敏度分析。

作為粉末X射線衍射的輔助裝置

理學(xué)X射線分析集成軟件SmartLab Studio II - NEX DE測量結(jié)果文件可以從PowderXRD插件的晶相自動(dòng)搜索條件設(shè)置屏幕加載。通過NEX DE獲得的基本信息將反映在搜索條件中。

可從 Na 到 U 進(jìn)行分析

它可用于從研究和開發(fā)到過程控制的通用目的。

使用 FP 方法進(jìn)行無標(biāo)準(zhǔn)分析

標(biāo)準(zhǔn)配備塊狀FP法和薄膜FP法，可以輕松地對無法制備標(biāo)準(zhǔn)樣品的樣品進(jìn)行定性和定量分析。還可以使用標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)曲線法進(jìn)行定量分析。

可以安裝在任何地方

僅使用 AC100V 電源工作，無需冷卻水。無需任命 X 射線工作主管。

產(chǎn)品名稱 NEX DE

方法 X 射線熒光分析 (XRF)

目的固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析

技術(shù) 使用 SDD 檢測器的能量色散 XRF (EDXRF)

主要成分 12W-60kV X射線管、SDD探測器

選項(xiàng) 自動(dòng)進(jìn)樣器、旋轉(zhuǎn)器（單位置）

控制（電腦）外部 PC、MS Windows® 操作系統(tǒng)、QuantEZ 軟件

機(jī)身尺寸 356（寬）×260（高）×351（深）毫米

重量約27公斤（本體）

電源單相 100/220 VAC 50/60 Hz，1.5 A

產(chǎn)品名稱	NEX DE
方法	X 射線熒光分析 (XRF)
目的	固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析
技術(shù)	使用 SDD 檢測器的能量色散 XRF (EDXRF)
主要成分	12W-60kV X射線管、SDD探測器
選項(xiàng)	自動(dòng)進(jìn)樣器、旋轉(zhuǎn)器（單位置）
控制（電腦）	外部 PC、MS Windows® 操作系統(tǒng)、QuantEZ 軟件
機(jī)身尺寸	356（寬）×260（高）×351（深）毫米
重量	約27公斤（本體）
電源	單相 100/220 VAC 50/60 Hz，1.5 A