世界*高效的原子力顯微鏡性能的新標桿

  ·對所有AFM樣品提供**性能測量
  ·更快的呈現(xiàn)高質量數(shù)據
  ·提供定量的納米材料性能圖譜
  ·由**的峰值力模式實現(xiàn)

Dimension FastScan? 原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension® Icon®超高的分辨率和**的儀器性能前提下，*大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術**，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數(shù)據的時間。 
為提高AFM使用效率和檢測性能，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨率，不增加操作復雜性，不影響儀器使用成本的前提下，幫助用戶實現(xiàn)了利用Dimension快速掃描系統(tǒng)，即快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設置實驗參數(shù)為掃描速度 > 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術**重新定義了AFM儀器的操作和功能。 
**的儀器檢測性能
  ·在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調節(jié)和檢測器調節(jié)，智能進針，大大縮短了實驗時間。
  ·自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)**結合，大幅提高了實驗數(shù)據的可信度和可重復性。
****的測量分辨率
  ·Fastscan**的力控制模式提高了圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。
  ·掃描速度20Hz時仍能獲得高質量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質量的ScanAsyst圖像。
  ·低噪音，溫度補償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平。
**的測試功能，適用于各類AFM樣品
  ·閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描器極大的降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率，可得到超高分辨的真實圖像。
  ·Fast Scan可以對不同樣品進行測量，保證掃描過程中從埃級到0.1μm的高精度無失真掃描。

不論您選擇Icon掃描器獲得超低噪音和超高分辨率的圖像，還是選擇Dimension FastScan AFM的掃描器進行高速掃描檢測，Dimension FastScan AFM系統(tǒng)都會幫助您將儀器的功能開發(fā)到*大程度，實現(xiàn)其它單一模式的儀器所達不到的效果。

BRUKER布魯克 原子力顯微鏡 Dimension® FastScan?

BRUKER布魯克 原子力顯微鏡 Dimension® FastScan?