AFM檢測性能的全新定義
適合更寬應(yīng)用領(lǐng)域的*高性能的大樣品AFM成像
  ◆ 對所有AFM樣品提供*高性能的測量
  ◆ 提供更廣泛的AFM模式與應(yīng)用
  ◆ 提供定量的納米材料性能圖譜
  ◆ 由**的峰值力模式實(shí)現(xiàn)
Bruker Dimension® Icon? 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的AFM應(yīng)用體驗(yàn)，其測試功能強(qiáng)大，操作簡便易行。仍然以世界上應(yīng)用*廣泛的AFM大樣品平臺為基礎(chǔ)，齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，廣大客戶反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求，進(jìn)行**革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了****的低漂移和低噪音水平，現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實(shí)準(zhǔn)確的掃描圖像。
Dimension® Icon?優(yōu)良的圖像分辨率，與Bruker特有的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測量速度與質(zhì)量。Dimension®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處于行業(yè)××地位，*新的Dimension® Icon?是針尖掃描技術(shù)的又一次革新，配置溫度補(bǔ)償位置傳感器，實(shí)現(xiàn)了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平，將其應(yīng)用在90微米掃描范圍的大樣品臺體系上，效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺AFM的開環(huán)噪音水平。全新設(shè)計(jì)的XYZ閉環(huán)掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時(shí)，也不會損壞圖像質(zhì)量，實(shí)現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。
**體驗(yàn)
  ◆ 獨(dú)特的傳感器設(shè)計(jì)，在閉環(huán)條件下，也能實(shí)現(xiàn)大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有極高的掃描分辨率
  ◆ 極大地降低噪聲水平，在輕敲模式下低于30pm，接觸模式下可獲得原子級圖像
  ◆ 熱漂移速率低于200pm/分鐘，獲得真正的樣品圖像
高效率
  ◆ XYZ閉環(huán)掃描器的**設(shè)計(jì)，使儀器在較高掃描速度工作時(shí)，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率
  ◆ 將十年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)融入到參數(shù)預(yù)設(shè)置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認(rèn)的實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｊ健?br>   ◆ 高分辨率相機(jī)和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置
全功能
  ◆ 針尖和樣品之間開放式的空間設(shè)計(jì)，不僅可以進(jìn)行各種標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)，也可以自行設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案，滿足不同研究工作的需求
  ◆ 硬件和軟件技術(shù)的不斷**，新開發(fā)的HarmoniX 模式，可以測量納米尺度上材料性質(zhì)
  ◆ 用戶實(shí)用程序腳本提供半自動測量方案和數(shù)據(jù)分析。

BRUKER布魯克 原子力顯微鏡 Dimension® Icon?

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