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HORIBA日本堀場X 射線熒光分析儀 為了滿足 RoHS/ELV 測試和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射線熒光分析儀 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以來，全球已有 1000 臺儀器用于這些應用，以滿足客戶在不切割樣品的情況下分析樣品的關鍵需求。 2012 年，HORIBA發(fā)布了直觀便捷的 MESA-50 X射線熒光分析儀，在很短的時間內(nèi)變得非常流行，2013 年，MESA-50 系列增加了一種帶有大樣品室的新型 MESA-50K, 它配備了無需液氮的精密檢測器，As/Sb 分析功能和多層膜FPM 可作為可選功能。 查看詳情
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HORIBA日本堀場X 射線熒光分析儀 速度和靈活性兼?zhèn)涫俏^(qū) X 射線熒光光譜的發(fā)展方向 <15μm 超高強度X射線頭，兼具高靈敏度和高空間分辨率 高分辨相機和多種照明模式成像 雙檢測器！熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器 輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素 查看詳情
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HORIBA日本堀場微區(qū)X射線熒光分析儀 速度和靈活性兼?zhèn)涫俏^(qū) X 射線熒光光譜的發(fā)展方向 <15μm 超高強度X射線頭，兼具高靈敏度和高空間分辨率 高分辨相機和多種照明模式成像 雙檢測器！熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器 輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素 查看詳情
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HORIBA日本堀場混合皮秒光子檢測器HPPD detector technology HORIBA在TCSPC檢測器技術的全新發(fā)展 HPPD是我們在TCSPC檢測器技術方面的*新發(fā)展，它結合了傳統(tǒng)PMT設計的優(yōu)點（寬光譜響應和大活性面積）與固態(tài)APD技術的優(yōu)勢（良好的檢測效率、可忽略的后脈沖和**的時間分辨率）。混合檢測器正在成為FLIM和短壽命測定的優(yōu)選。 查看詳情
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HORIBA日本堀場混合皮秒光子檢測器HPPD detector technology HORIBA在TCSPC檢測器技術的全新發(fā)展 HPPD是我們在TCSPC檢測器技術方面的*新發(fā)展，它結合了傳統(tǒng)PMT設計的優(yōu)點（寬光譜響應和大活性面積）與固態(tài)APD技術的優(yōu)勢（良好的檢測效率、可忽略的后脈沖和**的時間分辨率）?；旌蠙z測器正在成為FLIM和短壽命測定的優(yōu)選。 查看詳情
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HORIBA日本堀場混合皮秒光子檢測器HPPD detector technology HORIBA在TCSPC檢測器技術的全新發(fā)展 HPPD是我們在TCSPC檢測器技術方面的*新發(fā)展，它結合了傳統(tǒng)PMT設計的優(yōu)點（寬光譜響應和大活性面積）與固態(tài)APD技術的優(yōu)勢（良好的檢測效率、可忽略的后脈沖和**的時間分辨率）?；旌蠙z測器正在成為FLIM和短壽命測定的優(yōu)選。 查看詳情
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HORIBA日本堀場混合皮秒光子檢測器HPPD detector technology HORIBA在TCSPC檢測器技術的全新發(fā)展 HPPD是我們在TCSPC檢測器技術方面的*新發(fā)展，它結合了傳統(tǒng)PMT設計的優(yōu)點（寬光譜響應和大活性面積）與固態(tài)APD技術的優(yōu)勢（良好的檢測效率、可忽略的后脈沖和**的時間分辨率）?；旌蠙z測器正在成為FLIM和短壽命測定的優(yōu)選。 查看詳情
