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HORIBA日本堀場納米粒度及Zeta電位分析儀 先進的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺設(shè)備就能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。 納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。 查看詳情
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HORIBA日本堀場納米粒度及Zeta電位分析儀 先進的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺設(shè)備就能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。 納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。 查看詳情
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HORIBA日本堀場納米顆粒追蹤分析儀 采用多波長激光對外泌體、病毒等納米材料樣品中的所有顆粒進行完整、詳細(xì)的分析。 外泌體、病毒和納米顆粒都具有較寬的粒徑分布，這使得傳統(tǒng)的納米顆粒追蹤分析 (NTA)儀無法準(zhǔn)確測量它們的粒徑分布。ViewSizer 3000的三個激光器可同時工作，可在同一樣品中收集各種尺寸的*準(zhǔn)確的分布和濃度信息。如果某一顆粒來自某一激光的散射光信號太強使檢測器達到飽和，軟件會自動使用來自較低功率激光器的數(shù)據(jù)來確保獲得*準(zhǔn)確的尺寸和濃度信息。另一方面，當(dāng)來自某一激光的散射光信號太弱而無法檢測時，軟件會使用更高功率激光的數(shù)據(jù)來準(zhǔn)確跟蹤顆粒。 查看詳情
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HORIBA日本堀場激光粒度分析儀 HORIBA LA-350 激光粒度分析儀是一款性能高、價格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應(yīng)用于漿料、礦物和造紙行業(yè)等多種領(lǐng)域?；贚A系列分析儀的先進光學(xué)設(shè)計，LA-350實現(xiàn)了高性能、易操作、低維護和高效益的優(yōu)點。 通過調(diào)整石墨晶體的角度，用可測量的激發(fā)光束激發(fā)樣品中的硫 查看詳情
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HORIBA日本堀場激光粒度分析儀 LA-960V2 秉承 HORIBA 一貫的優(yōu)異設(shè)計**行業(yè)方向。其直觀的軟件、特有的附件和優(yōu)異的性能將科學(xué)認(rèn)知推向未知世界，是LA系列儀器的突破性演變。 查看詳情
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HORIBA日本堀場X射線熒光油中硫/氯分析儀 MESA-7220V2使用單色能量色散X射線熒光（EDXRF）法測量石油產(chǎn)品中的硫和氯。使用單色X射線源可以獲得超低噪聲背景，從而為硫和氯檢測提供更低檢測限。 探測器窗口尺寸增大，以收集更多的熒光X射線，從而能夠檢測低至幾個ppm水平含硫含氯石油產(chǎn)品。針對石油產(chǎn)品中硫和氯兩種元素的檢測，無論低濃度和高濃度下都能提供了優(yōu)異的可重復(fù)的性能。 通過調(diào)整石墨晶體的角度，用可測量的激發(fā)光束激發(fā)樣品中的硫，從而提高靈敏度。 查看詳情
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HORIBA日本堀場X射線熒光油中硫分析儀 油中硫分析的市場***HORIBA Scientific宣布推出新的SLFA-6100/6800能量色散X射線熒光硫分析儀，該分析儀測量的油中硫含量范圍為5 ppm至9.9999%。這種新型、緊湊、準(zhǔn)確的分析儀滿足任何希望符合。 查看詳情
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HORIBA日本堀場X射線熒光油中硫分析儀 HORIBA的油中硫分析儀SLFA-60為同類設(shè)備建立了新標(biāo)準(zhǔn)。該儀器引入了新的軟件和硬件功能，以滿足石油行業(yè)日益增長的變化。該儀器擴展了校準(zhǔn)曲線的存儲，并可使用USB輸出輸出數(shù)據(jù)。測量范圍增加到0-9.9999 wt%，以覆蓋高硫原油和頁巖油市場。 查看詳情
