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- LUCEO魯機(jī)歐應(yīng)力儀
- SANEI三榮電機(jī)
- NPM日脈電機(jī)馬達(dá)
- NBK鍋屋工裝夾具
- AKRIBIS雅克貝斯精密平...
- COSMO科斯莫檢漏儀
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- SUMITA住田光纖
- HAYASHI林時(shí)計(jì)光纖光源
- METROL美德龍
- VALQUA華爾卡配管部品
- CHINO千野溫濕度計(jì)
- HIKARIYA光屋檢查燈
- HEIDON新東攪拌機(jī)
- SOLAX/SERIC索納克...
- SANKO山高膜厚計(jì)
- ITOH伊藤粉碎機(jī)
- NEWKON新光針孔機(jī)
- ONOSOKKI小野編碼器
- ELMEX安科生物涂抹棒
- AxoScan美國(guó)
- MITSUI ELECTRI...
- FUJICOM富士
- HAYASHI林時(shí)計(jì)
- Navitar納維塔爾鏡頭
- KANETEC強(qiáng)力脫磁裝置
- NPM日本脈沖電機(jī)
- YUASA尤阿薩折彎?rùn)C(jī)
- UNILAM優(yōu)尼光紫外燈
- POLARION普拉瑞探照燈
- AND艾安得
- JIKCO吉高濃度計(jì)
- IIJIMA飯島酸素計(jì)
- SPAIR日信工具
- Axometrics美國(guó)
- ASAHI旭精工
- DSK電通熒光燈
- DNL**燈
- ORIHARA折原應(yīng)力儀
- NIKKATO日陶研磨球
- NDK日本電色霧度計(jì)
- DRY-CABI德瑞卡比防潮...
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RIGAKU日本理學(xué) 掃描式熒光X射線分析儀 這是一款底照式掃描X射線熒光分析儀，基于ZSX Primus IV培育的*新硬件和軟件技術(shù)，在性能和功能上取得了進(jìn)一步的改進(jìn)。只需將液體樣品倒入覆蓋有樣品膜的樣品池中即可輕松測(cè)量。此外，盤狀合金、電鍍板、玻璃板等樣品只需將測(cè)量面朝下放置在樣品架上即可輕松測(cè)量。對(duì)于難以壓模的顆粒樣品、小體積樣品、小直徑碎片等，很容易將其直接設(shè)置在樣品池的薄膜上，無需樣品處理即可輕松測(cè)量有價(jià)值的樣品。您可以指定分析位置并執(zhí)行映射測(cè)量，同時(shí)使用高分辨率相機(jī)觀察樣本圖像。 查看詳情
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RIGAKU日本理學(xué) 熒光X射線分析儀 這是一款波長(zhǎng)色散X射線熒光分析儀，尺寸緊湊，但配備高輸出200W X射線管。它支持從礦產(chǎn)資源分析到環(huán)境分析的廣泛應(yīng)用。 查看詳情
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RIGAKU日本理學(xué) 熒光X射線分析儀 這是一款波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），能夠以無損、非接觸的方式同時(shí)分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。兼容 GEM300 和 300mm Fab 的內(nèi)聯(lián)規(guī)格。 XYθZ驅(qū)動(dòng)方式樣品臺(tái)（**方式）能夠準(zhǔn)確分析各種金屬薄膜，同時(shí)避免衍射線的影響。 查看詳情
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RIGAKU日本理學(xué) 熒光X射線分析儀 這是一款波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可同時(shí)無損、非接觸地分析尺寸*大200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。 XYθZ驅(qū)動(dòng)方式樣品臺(tái)（**方式）能夠準(zhǔn)確分析各種金屬薄膜，同時(shí)避免衍射線的影響。 查看詳情
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RIGAKU日本理學(xué) 熒光X射線分析儀 AZX 400 是可測(cè)量半導(dǎo)體薄膜的波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜儀 (WDX) 的**型號(hào)。通過采用具有高信噪比和高分辨率的WDX方法，與能量色散X射線熒光分析（EDX）方法相比，可以實(shí)現(xiàn)高精度的分析。一臺(tái)設(shè)備涵蓋了從Be到U的所有元素，包括作為半導(dǎo)體材料很重要的B、C、N和O?？蓽y(cè)量φ50mm至φ300mm晶圓、芯片、切割晶圓等各種樣品。此外，通過將其與晶圓裝載機(jī)相結(jié)合，單個(gè)裝置可用于從研究和開發(fā)到質(zhì)量控制的多種情況。 查看詳情
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RIGAKU日本理學(xué) 熒光X射線分析儀 這是一款波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），能夠以無損、非接觸的方式同時(shí)分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。兼容 GEM300 和 300mm Fab 的內(nèi)聯(lián)規(guī)格。 XYθZ驅(qū)動(dòng)方式樣品臺(tái)（**方式）能夠準(zhǔn)確分析各種金屬薄膜，同時(shí)避免衍射線的影響。使用4kW高功率X射線管可以測(cè)量微量元素。此外，可以使用高靈敏度硼檢測(cè)器對(duì) BPSG 薄膜中的硼等超輕元素進(jìn)行高精度分析。它配備了樣品高度校正功能和Auto Cal（全自動(dòng)日常檢查/強(qiáng)度校正功能），這是頂部照射方法中的開創(chuàng)。 查看詳情
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RIGAKU日本理學(xué) 波長(zhǎng)色散X射線熒光分析 這是一款波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可同時(shí)無損、非接觸地分析尺寸大200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。 XYθZ驅(qū)動(dòng)方式樣品臺(tái)（**方式）能夠準(zhǔn)確分析各種金屬薄膜，同時(shí)避免衍射線的影響。通過采用4kW高功率X射線管，可以高精度分析超輕元素，例如BPSG膜的微量元素測(cè)量和硼分析。還支持 C 到 C 傳送機(jī)器人（可選）。配備Auto Cal（全自動(dòng)日常檢查/強(qiáng)度校正功能）。 查看詳情
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RIGAKU日本理學(xué) 波長(zhǎng)色散X射線熒光分儀 AZX 400 是可測(cè)量半導(dǎo)體薄膜的波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜儀 (WDX) 的**型號(hào)。通過采用具有高信噪比和高分辨率的WDX方法，與能量色散X射線熒光分析（EDX）方法相比，可以實(shí)現(xiàn)高精度的分析。一臺(tái)設(shè)備涵蓋了從Be到U的所有元素，包括作為半導(dǎo)體材料很重要的B、C、N和O?？蓽y(cè)量φ50mm至φ300mm晶圓、芯片、切割晶圓等各種樣品。此外，通過將其與晶圓裝載機(jī)相結(jié)合，單個(gè)裝置可用于從研究和開發(fā)到質(zhì)量控制的多種情況。 查看詳情
